GB/T 2423 電工電子產品環境試驗標準的組成部分

GB/T 2423.1-2008 電工電子產品（pǐn）環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫（IEC 60068-2-1：2007，IDT）低溫試驗箱

　　GB/T 2423.3-2006 電工電子（zǐ）產品環境試驗 第2部分：試驗（yàn）方法 試驗（yàn）Cab：恒定濕熱試（shì）驗（IEC 60068-2-78：2001，IDT）恒溫（wēn）恒濕（shī）試驗箱

　　GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗（yàn）方法 試驗Db：交變濕熱（rè）（12h+12h循（xún）環）（IEC 60068-2-30：2005，IDT）高（gāo）低溫交（jiāo）變濕熱試驗箱

　　GB/T 2423.5-1995 電（diàn）工電子產品環境試（shì）驗 第2部分：試驗方法（fǎ） 試驗Ea和導則：衝擊（idt IEC 60068-2-27:1987）冷（lěng）熱衝擊箱

　　GB/T 2423.6-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分：試（shì）驗方法（fǎ） 試驗Eb和導則：碰撞（idt IEC 60068-2-29:1987）

　　GB/T 2423.7-1995 電工電子產品環境試驗 第2部（bù）分：試（shì）驗方法 試驗Ec和導則：傾跌與翻倒（主要用於設備型樣品）（idt IEC 60068-2-31:1982）

　　GB/T 2423.8-1995 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗（yàn）Ed：自由跌落（idt IEC 60068-2-32:1990）跌落試驗機

　　GB/T 2423.10-2008 電工電子產品環境試驗 第2部（bù）分：試（shì）驗方法 試驗Fc：振動（正弦（xián））（IEC 60068-2-6:1995，IDT）振動（dòng）試（shì）驗（yàn）機

　　GB/T 2423.15-2008 電（diàn）工電子產品環境試驗 第2部分：試驗（yàn）方法 試驗Ga和導則：穩態加（jiā）速度（IEC 60068-2-7:1986，IDT）

　　GB/T 2423.16-2008 電工電（diàn）子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J和（hé）導則：長黴（IEC 60068-2-10:2005，IDT）

　　GB/T 2423.17-2008 電（diàn）工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法（fǎ） 試驗Ka：鹽霧（IEC 60068-2-11:1981，IDT）鹽（yán）霧機（jī）

　　GB/T 2423.18-2000 電（diàn）工電子產品環境試驗 第（dì）2部分：試驗方法 試驗Kb：鹽霧，交變（biàn）（氯（lǜ）化（huà）鈉溶液）（idt IEC 60068-2-52:1996）鹽霧耐腐蝕試（shì）驗箱

　　GB/T 2423.21-2008 電工電（diàn）子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓試驗方法（IEC 60068-2-13:1983，IDT）

　　GB/T 2423.22-2002 電工（gōng）電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫（wēn）度變化（IEC 60068-2-14:1984，IDT）

　　GB/T 2423.23-1995 電工電子產（chǎn）品環（huán）境試驗 試驗Q：密封