高低溫試驗箱的試驗方法（fǎ）與標準如何進（jìn）行選擇

               高低溫試驗箱的（de）試驗方法（fǎ）與標準如何進行選擇   
   高（gāo）低溫試驗箱（xiāng）通（tōng）常被用來做高溫試驗、低溫試驗以及高低溫試驗（yàn）的組合，其各種試驗的試驗方法與標準選擇一般以以下為準：

   高溫和低溫試驗是zui常（cháng）見的一（yī）種環境試驗項目。低溫試驗對產品產生的影響主要使材（cái）料變成脆（cuì）硬性，致使破損開裂，強度降（jiàng）低，潤滑作用減小，電（diàn）子元器件性能引起變化等。高溫試驗對（duì）產品的影響主要表現（xiàn）在改變材料（liào）的物理性能和尺寸，不同的材料膨脹不一致使零件粘結，潤滑劑外流使潤滑能（néng）力損失，電器元件（jiàn）過熱損壞，電子電路穩定性改變等。如對帶有塑膠件的產品這二項試驗就很能夠暴露問題。

    高溫（wēn）和低溫試驗試驗一般安排在一套試驗的早期，且為相信順序，這樣既能夠考核等高溫對（duì）的耐高溫和低（dī）溫能力也（yě）能夠達到耐（nài）溫變（biàn）試驗的效果。高溫和低溫試驗依據國標GB/T 2423.1-2008《電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗（yàn）方法A：低溫試驗方法》和GB/T 2423.2-2008《電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法B：高溫試（shì）驗方法》。有散熱樣品溫度漸（jiàn）變（biàn）和（hé）非散熱樣品（pǐn）溫度漸變所做的規定來選擇，分為高溫工（gōng）作和低溫工（gōng）作試驗、高溫存儲和低溫存儲試（shì）驗，據實際樣（yàng）品所屬是否散熱用工（gōng）作和存儲兩種不同溫度點和產品狀態來進行合適的考（kǎo）量。高（gāo）溫和低溫工作試驗的溫度嚴（yán）酷（kù）度一般低於存儲類溫度（dù）5～10℃。在實際（jì）檢測中*行工作試驗考（kǎo）核後再做關機狀態下存儲試（shì）驗，對於部（bù）分大電流、高（gāo）發熱的電器產品，其高溫工作試驗可（kě）以代替（tì）高溫存儲試驗，因為其工作時（shí）溫度（dù）已經超出其存儲溫度極限，故隻需進行高溫（wēn）工（gōng）作試驗即可。常（cháng）見的高溫工作試（shì）驗溫（wēn）度有：40℃、50℃，高溫存儲試驗溫度有：50℃、55℃，低溫（wēn）工作試驗有（yǒu）：0℃、-10℃、-20℃，低溫存儲試驗溫度有：-20℃、-40℃，工（gōng）作試驗時間（jiān）2h～4h～8h，存儲試驗8h～16h～24h。通（tōng）常高溫和低（dī）溫試驗能夠暴露出（chū）產品的（de）缺陷（xiàn）如：外殼變（biàn）形，電性能故障不能正常運行等，從而達到整改的目的。如產（chǎn）品高溫（wēn）可靠性試驗也是高溫工作試驗一（yī）種。

    高低溫組合也是覺的試驗項目(推薦使用可程式高低（dī）溫試驗（yàn）箱)，多用來更嚴酷地考核產品內外結構性能和電性能。

a)溫度衝擊（jī）試驗（yàn）-溫度突變Na是目前常用來考核元器件和材料一種試驗。高低溫衝擊試驗是通過快速溫變（biàn）來達到考核產品的目的，因為屬於（yú）非工作（zuò）狀態高低溫衝擊試驗的指標上、下限多采用高、低（dī）溫存儲試驗的上、下限，可（kě）參照試驗樣品在高（gāo）、低溫存儲試驗（yàn）中獲得的的溫（wēn）度響應特性等信息。    b)溫度（dù）變化（huà）試驗（yàn）-溫度漸變Nb常用來考（kǎo）核整機試（shì）驗。在試驗中產品按要求可處於工作狀態，因此溫度（dù）變化試驗的（de）上、下限往往使用高、低溫工作試驗的上、下限。這二項試驗參照的標準有（yǒu）GB/T 2423.22-2002《電工電子產品環境試（shì）驗 第（dì）2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化》等，根據實際要求選擇高溫點和低溫點，滯留時（shí）間（jiān），溫變速率，循環次數定試驗等級。