更(gèng)新(xīn)時間:2014-03-11
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鹽霧試驗有哪些國(guó)家標準?
01 GB/T5170.8-1996電(diàn)工電(diàn)子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法--鹽(yán)霧試驗設備
02 GB/T 4797.6-1995電工電子(zǐ)產品自然環(huán)境條件--塵、沙、鹽(yán)霧
03 GB/T 2423.18-2000 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗試驗Kb:鹽霧,交(jiāo)變 04 GB/T 12967.3-1991鋁及鋁(lǚ)合金陽極氧化--氧化(huà)膜的銅加速(sù)醋酸鹽霧試驗(CASS試驗)
05 GB/T 10125-1997 人造氣氛腐蝕試驗--鹽霧試驗(yàn)
06 GB 8993.12-1988 核儀器環境試驗基本要求與方(fāng)法鹽霧試驗
07 GB 6460-1986金屬覆蓋層--銅加速乙酸鹽霧試驗(CASS試驗(yàn))
08 GB 6459-1986 金屬覆蓋層--乙酸鹽霧試驗(yàn)(ASS試驗)
09 GB 6458-1986 金屬覆蓋層--中性(xìng)鹽霧試驗(yàn)(NSS試驗)
10 GB 5940-1986輕工產品金屬鍍層和化學處理層(céng)的耐腐蝕試驗方法--銅鹽加速乙(yǐ)酸鹽霧試驗(CASS)法
11 GB 5939-1986輕工產品金屬鍍層和化學處理層的耐腐蝕試驗方法(fǎ)--乙酸鹽霧試驗(ASS)法(fǎ)
12 GB 5938-1986輕(qīng)工產品(pǐn)金屬鍍(dù)層和化學處理層的耐腐(fǔ)蝕試驗方法--中性鹽霧試驗(yàn)(NSS)法
13 GB 5589.5-1985 電纜附件試驗方法--第(dì)5部(bù)分:鹽霧(wù)試驗
14 GB 5170.8-1985電(diàn)工(gōng)電子產品環境試驗設備(bèi)基本(běn)參數檢定方法--鹽霧(wù)試驗(yàn)設備
15 GB 4585.1-1984交流係統用高壓絕緣(yuán)子人工汙穢試驗方法鹽霧法
16 GB 2423.17-1981 電(diàn)工電子產品基本環境試驗規(guī)程試驗Ka:鹽霧試驗方法
17 GB 1771-1979 漆膜耐鹽霧測定法(fǎ)
18 GB 1765-1979 測定耐濕熱、耐鹽霧、耐候性(人工加速)的漆膜製備法
19 GB 12085.4-1989 光學和光學儀器--環(huán)境(jìng)試驗方法--鹽霧
20 GB 11606.13-1989 分析儀器環境試驗方法(fǎ)--鹽霧試驗
21 GB 10593.2-1990 電工電子產品環境參數測量方法--鹽霧
22 GB 10587-1989 鹽霧試驗箱技術條件
23 GB 10263.7-1988 輻(fú)射探測器環境(jìng)試驗基本要求與方法--鹽霧試驗
24 GB 10125-1988 人造氣氛中的腐蝕試驗鹽霧試驗(SS試驗)
25 GB/T 18912-2002 光伏組件鹽霧腐蝕試驗
26 GB/T 12000-2003 塑料(liào)暴露於濕熱、水噴霧和鹽霧(wù)中影響的測(cè)定
27 GB/T 18310.26-2003 纖維光學互連器件和無源(yuán)器件-基本試驗和測量程序第2-26部分:試驗-鹽霧
28 GB/T 18912-2002 光(guāng)伏組件鹽霧腐蝕試驗(yàn)
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